Estudos de composicao e espessura de filmes finos utilizando-se a tecnica de Rutherford backscattering spectroscopy (RBS)

Inicia????o Cient??fica

Registro en:

http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22754

https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8984256

Autor

SIMONSSINI, MARIO A.

ANDRADE, LEANDRO H.F. de

SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA INSTITUCIONAL DE BOLSAS DE INICIACAO CIENTIFICA, 15.; SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA DE BOLSAS E INICIACAO CIENTIFICA, 6.

Institución

Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (Brasil)

Materias

rutherford backscattering spectroscopy

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