Estudos de composicao e espessura de filmes finos utilizando-se a tecnica de Rutherford backscattering spectroscopy (RBS)

dc.creatorSIMONSSINI, MARIO A.
dc.creatorANDRADE, LEANDRO H.F. de
dc.creatorSEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA INSTITUCIONAL DE BOLSAS DE INICIACAO CIENTIFICA, 15.; SEMINARIO ANUAL DO PROGRAMA DE BOLSAS E INICIACAO CIENTIFICA, 6.
dc.date2014-11-19T12:02:29Z
dc.date2014-11-19T13:59:27Z
dc.date2015-04-01T12:45:12Z
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dc.date7-8 de outubro, 2009
dc.date.accessioned2023-09-28T12:54:38Z
dc.date.available2023-09-28T12:54:38Z
dc.identifierhttp://repositorio.ipen.br/handle/123456789/22754
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8984256
dc.format145-146
dc.rightsopenAccess
dc.subjectthin films
dc.subjectrutherford backscattering spectroscopy
dc.subjectsputtering
dc.subjectcobalt
dc.subjectgadolinium
dc.subjectrare earths
dc.subjectsimulation
dc.subjectx codes
dc.titleEstudos de composicao e espessura de filmes finos utilizando-se a tecnica de Rutherford backscattering spectroscopy (RBS)
dc.typeInicia????o Cient??fica
dc.coverageN


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