info:eu-repo/semantics/article
Statistical-Analysis of a Mixed-Layer X-Ray-Diffraction Peak
Autor
Rebollo-Neira, Laura
Constantinides, Anthony G.
Plastino, Ángel Luis
Alvarez, Alberto Guillermo
Bonetto, Rita D.
Iñíguez Rodríguez, Adrián Mario
Institución
Resumen
Fil: Rebollo-Neira, Laura. Department of Mathematics. Aston University. Birmingham; United Kingdom Fil: Constantinides, Anthony G.. Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering. London; United Kingdom Fil: Plastino, Ángel Luis. CONICET; Argentina Fil: Alvarez, Alberto Guillermo. Departamento de Química. Universidad de Los Andes; Colombia Fil: Bonetto, Rita D.. Centro de Investigación y Desarrollo en Ciencias Aplicadas Dr. Jorge J. Ronco. CINDECA. Facultad de Ingeniería y de Ciencias Exactas. Universidad Nacional de La Plata; Argentina Fil: Iñíguez Rodríguez, Adrián Mario. Centro de Investigaciones Geológicas (CIG). Facultad de Ciencias Naturales y Museo. Universidad Nacional de La Plata; Argentina