dc.creatorRebollo-Neira, Laura
dc.creatorConstantinides, Anthony G.
dc.creatorPlastino, Ángel Luis
dc.creatorAlvarez, Alberto Guillermo
dc.creatorBonetto, Rita D.
dc.creatorIñíguez Rodríguez, Adrián Mario
dc.date1997
dc.date.accessioned2023-07-16T00:23:45Z
dc.date.available2023-07-16T00:23:45Z
dc.identifierhttp://naturalis.fcnym.unlp.edu.ar/repositorio/_documentos/sipcyt/bfa004950.pdf
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7496506
dc.descriptionFil: Rebollo-Neira, Laura. Department of Mathematics. Aston University. Birmingham; United Kingdom
dc.descriptionFil: Constantinides, Anthony G.. Imperial College London. Department of Electrical and Electronic Engineering. London; United Kingdom
dc.descriptionFil: Plastino, Ángel Luis. CONICET; Argentina
dc.descriptionFil: Alvarez, Alberto Guillermo. Departamento de Química. Universidad de Los Andes; Colombia
dc.descriptionFil: Bonetto, Rita D.. Centro de Investigación y Desarrollo en Ciencias Aplicadas Dr. Jorge J. Ronco. CINDECA. Facultad de Ingeniería y de Ciencias Exactas. Universidad Nacional de La Plata; Argentina
dc.descriptionFil: Iñíguez Rodríguez, Adrián Mario. Centro de Investigaciones Geológicas (CIG). Facultad de Ciencias Naturales y Museo. Universidad Nacional de La Plata; Argentina
dc.formatapplication/pdf
dc.languageeng
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/ar/
dc.sourceJournal of Physics D-Applied Physics . 1997;30(17):2462-2469
dc.subjectGEOLOGIA
dc.subjectStatistical analysis
dc.subjectX-ray-diffraction
dc.titleStatistical-Analysis of a Mixed-Layer X-Ray-Diffraction Peak
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article
dc.typeinfo:ar-repo/semantics/artículo
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion


Este ítem pertenece a la siguiente institución