Diseño, construcción y caracterización de un circuito formado por nanotubos de carbón mediante microscopia de fuerza atómica (AFM)

Abstract

RESUMEN: Los nanotubos de carbón han surgido como un nuevo material viable para el desarrollo de dispositivos electrónicos moleculares, gracias a las especificas propiedades eléctricas y físicas que presentan. Dichas propiedades los hacen excelentes candidatos para sustituir al silicio y favorecer la reducción en la escala de integración sobre los circuitos electrónicos, dando paso a una nueva era en el ramo de la micro y nanoelectrónica. La presente investigación muestra una metodología utilizando una versión del Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) en particular Microscopia de Fuerza Eléctrica (EFM), para poder identificar la fuerzas ejercidas por una carga en un circuito formado por una red de nanotubos sobre diferentes arreglos de electrodos de oro. Los resultados de este trabajo demuestra la habilidad de esta metodología para detectar y monitorear el paso de corriente en un circuito construido a base de nanotubos de carbón. Específicamente esta metodología permite encontrar e identificar que partes del circuito se encuentran electrónicamente activas, representando un gran potencial para evaluar dispositivos electrónicos en funcionamiento a nivel nanométrico.

ABSTRACT: Carbon nanotubes had emerged as a viable electronic material for molecular electronic devices because of their unique physical and electrical properties. These properties make them excellent candidates to replace silicon and encourage reductions in the integration scale of electronic circuits, giving way to a new era in the field of micro and nanoelectronics. This research shows a methodology using Electric Force Microscopy (EFM), a version of Atomic Force Microscope (AFM) in order to identify electric forces in a circuit formed by a network of nanotubes on gold electrodes. The results of this work demonstrate the ability of this method to detect the flow current in a circuit based on carbon nanotubes. This methodology allows to find and to identify which parts of the circuit are electronically active, also it has a great potential for evaluating electronic devices in working conditions at a nanometric scale.