Artículos de revistas
Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometríaóptica de baja coherencia
Autor
Palavicini, C.
Jaouën, Y.
Gallion, P.
Campuzano, G.
Institución
Resumen
La reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una información precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes. Optical low-coherence reflectometry has been succesfully applied to the characterization of photonic devices. This non-destructive and versatile technique permits the detection, localization and quantification of scattering discontinuities of optoelectronic devices, yielding an accurate and direct information of the optical properties of the device.