Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometríaóptica de baja coherencia

dc.contributores-ES
dc.contributoren-US
dc.creatorPalavicini, C.
dc.creatorJaouën, Y.
dc.creatorGallion, P.
dc.creatorCampuzano, G.
dc.date2009-10-05
dc.date.accessioned2018-03-16T15:46:18Z
dc.date.available2018-03-16T15:46:18Z
dc.identifierhttp://ojs.unam.mx/index.php/rmf/article/view/14187
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/1202295
dc.descriptionLa reflectometría óptica de baja coherencia ha sido aplicada a la caracterización de nuevos componentes ópticos utilizados en sistemas de telecomunicaciones emergentes. Esta técnica no destructiva y versátil, permite la detección, localización y cuantificación de discontinuidades existentes en los componentes fotónicos, obteniendo así una información precisa y directa sobre las propiedades ópticas de dichos componentes.es-ES
dc.descriptionOptical low-coherence reflectometry has been succesfully applied to the characterization of photonic devices. This non-destructive and versatile technique permits the detection, localization and quantification of scattering discontinuities of optoelectronic devices, yielding an accurate and direct information of the optical properties of the device.en-US
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherRevista Mexicana de Físicaes-ES
dc.relationhttp://ojs.unam.mx/index.php/rmf/article/view/14187/13524
dc.sourceRevista Mexicana de Física; Vol 52, No 004 (2006)es-ES
dc.subjectReflectometría de baja coherencia; caracterización de dispositivos fotónicoses-ES
dc.subjectOptical low-coherence reflectometry; photonic device characterizationen-US
dc.titleCaracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometríaóptica de baja coherenciaes-ES
dc.titleen-US
dc.typeArtículos de revistas
dc.typeArtículos de revistas


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