Artículos de revistas
Extracción de parámetros eléctricos de inversores CMOS de compuerta flotante
Electrical Parameters Extraction of CMOS Floating-Gate Inverters
Autor
Molinar Solís, J E; Universidad Autónoma del Estado de México
Ponce Ponce, V H; IPN
García Lozano, R Z; Universidad Autónoma del Estado de México
Díaz Sanchez, A; Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica INAOE
Rocha Pérez, j M; Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica INAOE
Institución
Resumen
En este trabajo se brinda una metodología precisa para la extracción del factor de ganancia g de la compuerta flotante en inversores CMOS, que constan de un interruptor para acceder temporalmente a la compuerta flotante. Con la metodología propuesta, el factor g y otras capacitancias parásitas acopladas a la compuerta flotante pueden ser extraídas. Estos parámetros son de mucha importancia, ya que juegan un papel importante en el desempeño de circuitos analógicos y de señal mixta. La comparación entre cálculos teóricos y simulaciones es hecha utilizando dos celdas de prueba fabricadas detecnología AMIABN de 1.2mm, a través de la organización MOSIS. Los parámetros extraídos pueden ser incorporados a macromodelos en PSpice para obtener simulaciones más precisas. This work provides an accurate methodology for extracting the floating-gate gain factor g, of CMOS floating-gate inverters with a clock-driven switch for accessing temporarilly to the floating-gate. With the methodology proposed in this paper, the g factor and other parasiticcapacitances coupled to the floating-gate can be easily extracted in a mismatch-free approach. This parameter plays animportant role in modern analog and mixed-signal CMOS circuits, since it limits the circuit performance. Theoretical and measured values using two test cells, fabricated in a standard double poly double metal CMOS AMI-ABN process with 1.2mm design rules, were compared. The extracted parameters can be incorporated into floating-gate PS pice macromodels for obtaining accurate electrical simulation.