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Microeletrônica e ocupação: o impacto na profissão de contadorMicroeletrônica e ocupação: o impacto na profissão de contador
(RAE - Revista de Administracao de EmpresasRAE - Revista de Administração de EmpresasRAE-Revista de Administração de Empresas, 1989)
Experimental characterization and numerical modeling of total ionizing dose effects on field oxide MOS dosimeters
(Pergamon-Elsevier Science Ltd, 2021-05)
The response of MOS dosimeters fabricated using field oxide as gate insulator was characterized measuring the threshold voltage shift with absorbed dose. Sensitivity for different applied bias and threshold voltage evolution ...