La medición cono substrato del fenómeno arquitectural

dc.creatorBorchers F., Juan
dc.date.accessioned2021-03-25T13:23:46Z
dc.date.accessioned2024-07-18T13:28:27Z
dc.date.available2021-03-25T13:23:46Z
dc.date.available2024-07-18T13:28:27Z
dc.date.created2021-03-25T13:23:46Z
dc.identifierFJB - D0076
dc.identifierhttps://archivospatrimoniales.uc.cl/handle/123456789/43826
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/9512987
dc.description.abstractCarpeta con texto a máquina en francés de “La medición como sustrato del fenómeno arquitectural”.
dc.relationArchivo de Originales FADEU
dc.relationFondo Documental Juan Borchers F. (FJB)
dc.titleLa medición cono substrato del fenómeno arquitectural
dc.typeDocumento


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