Uma tecnica simples para observacao da morfologia de uma liga de duas fases no Microscopio Eletronico de Varredura (SEM)

Texto completo de evento

Registro en:

http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/18634

https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8990775

Autor

QUADROS, N.F.

AMBROZIO FILHO, F.

2rd CONGRESSO LATINO AMERICANO DE MICROSCOPIA ELETRONICA

Institución

Instituto de Pesquisas Energéticas e Nucleares (Brasil)

Materias

electron microscopes

electron scanning

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