Disserta????o
Estudo de orientacoes cristalograficas de acos ao silicio utilizando tecnicas de difracao de raios X, difracao de eletrons e metodo ETCH PIT
Autor
SANTOS, HAMILTA de O.
Resumen
Dissertacao (Mestrado) IPEN/D Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN/CNEN-SP