dc.contributorVOLKMANN, ULRICH GEORG
dc.contributorPONTIFICIA UNIVERSIDAD CATOLICA DE CHILE/FACULTAD DE FISICA
dc.creatorSOZA OSSANDON, PAMELA ANDREA
dc.date2017-04-25T20:33:33Z
dc.date2022-08-18T01:11:40Z
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dc.date2003
dc.date.accessioned2023-08-23T00:18:02Z
dc.date.available2023-08-23T00:18:02Z
dc.identifier1010548
dc.identifierhttps://hdl.handle.net/10533/190846
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8354592
dc.descriptionFONDECYT
dc.descriptionLICENCIADO EN FISICA
dc.descriptionFONDECYT
dc.languagespa
dc.relationinstname: Conicyt
dc.relationreponame: Repositorio Digital RI2.0
dc.relationinfo:eu-repo/grantAgreement/Fondecyt/1010548
dc.relationinfo:eu-repo/semantics/dataset/hdl.handle.net/10533/93488
dc.rightsAtribución-NoComenrcial-SinDerivadas 3.0 Chile
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.titleEstudio de películas delgadas de alcanos adsorbidas sobre oxido de silico por medió de elipsometria de alta resolución y simulación dinamica molecular
dc.typeTesis Licenciatura
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesis
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.typeTesis


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