El comportamiento de la prueba F en el diseño completamente aleatorio bajo errores exponenciales, Weibull, Normal, Log Normal y Uniformes

dc.creatorZaldo Ayala, Roberto
dc.date2018-07-19T18:10:46Z
dc.date2018-07-19T18:10:46Z
dc.date2004-05-15
dc.date.accessioned2023-07-21T20:17:53Z
dc.date.available2023-07-21T20:17:53Z
dc.identifier4041031094981
dc.identifierhttp://repositorio.udlap.mx/xmlui/handle/123456789/11540
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7743733
dc.titleEl comportamiento de la prueba F en el diseño completamente aleatorio bajo errores exponenciales, Weibull, Normal, Log Normal y Uniformes
dc.typeTesis de Licenciatura


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