"En la presente tesis se implementaron las dos configuraciones de la técnica de interferometría electrónica de patrones de moteado (ESPI por sus siglas en inglés: Electronic Speckle Pattern Interferometry) correspondientes a los interferómetros con sensibilidad fuera-de-plano (FP) y en-plano (EP). Dada la importancia de los estudios de eventos dinámicos se implementaron técnicas de polarización para producir corrimiento de fase simultáneo en un interferómetro FP. Para el caso del sistema diseñado con sensibilidad fuera de plano, donde el ángulo de iluminación de la probeta de aluminio es de 20°, se calculó el vector de sensibilidad en los casos de iluminación colimada y divergente de acuerdo a la geometría del sistema óptico. Los resultados muestran un error del 3.41% y de 4.30% respectivamente en la evaluación del campo de desplazamiento w ( x, y) cuando en ambos casos se considera que la componente del vector de sensibilidad es constante. Por otra parte, haciendo uso de un sistema con sensibilidad en plano, se llevó a cabo la caracterización mecánica de una muestra correspondiente a un biopolímero que es sujeto a tracción evaluando secuencialmente 1360 estados, cada estado evaluado a una velocidad de 3µm/s. Ya que el tamaño de los mapas de los campos de desplazamiento cambia debido a la tracción de la muestra, se hace una corrección de escalamiento para relacionar los puntos del mapa con los correspondientes en el siguiente mapa. El método permite la evaluación correcta de los mapas de esfuerzo que describen la evolución mecánica de la probeta. Finalmente, para el sistema FP, se implementó un método de corrimiento de fase simultáneo de dos pasos donde el corrimiento de fase es obtenido mediante modulación por polarización. La obtención de dos patrones con corrimiento de fase se logra mediante un arreglo replicador basado en una configuración de Michelson. Se muestran resultados experimentales para el seguimiento de un evento dinámico en una probeta de aluminio que es sometida a flexión mecánica. El evento fue registrado mediante la captura de 290 patrones en 9.6 segundos (~30 fps )."