ALCANCES Y LIMITACIONES EN LA MEDICIÓN DE PELÍCULAS CON UN DIFRACTÓMETRO CONVENCIONAL: BRUKER D8 ADVANCE

dc.creatorMendoza Córdova, Abraham
dc.creatorOchoa Landín, Ramón
dc.creatorFlores Acosta, Mario
dc.date2016-12-31
dc.date.accessioned2023-07-17T23:08:38Z
dc.date.available2023-07-17T23:08:38Z
dc.identifierhttps://epistemus.unison.mx/index.php/epistemus/article/view/39
dc.identifier10.36790/epistemus.v10i21.39
dc.identifierhttp://www.repositorioinstitucional.uson.mx/handle/unison/5471
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7546889
dc.descriptionLas películas delgadas son capas de materiales con espesores que van desde algunos cuantos nanómetros hasta algunos micrómetros, dichas capas son creadas por técnicas tanto físicas como químicas. Para la caracterización estructural de los materiales cristalinos en forma de películas es indispensable la técnica de difracción de rayos X (DRX). El difractómetro indicado para hacer las mediciones debe de incluir un accesorio conocido como espejo Gobel. En el presente trabajo se realizaron mediciones sobre películas de: CdS, AgOH y CdCO3 utilizando un difractómetro convencional de polvos sin espejo Gobel, los resultados fueron favorables ya que se obtuvieron los patrones de difracción de los materiales, observándose una mejor definición en las películas de mayor espesor.
dc.formatapplication/pdf
dc.publisherUniversida de Sonora
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dc.relationhttps://epistemus.unison.mx/index.php/epistemus/article/view/39/28
dc.sourceEPISTEMUS; Vol. 10 No. 21 (2016): Technological advances and their application in the different spheres of knowledge; 93-98
dc.sourceEPISTEMUS; Vol. 10 Núm. 21 (2016): Avances tecnológicos y su aplicación en las distintas esferas del conocimiento; 93-98
dc.source2007-8196
dc.source2007-4530
dc.subjectAngulo rasante
dc.subjectpelículas delgadas
dc.subjectdifractómetro convencional
dc.titleALCANCES Y LIMITACIONES EN LA MEDICIÓN DE PELÍCULAS CON UN DIFRACTÓMETRO CONVENCIONAL: BRUKER D8 ADVANCE


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