Mediciones de reflectancia en el lejano infrarrojo demuestras de GaSb crecidas mediante LPE para conocerla concentración de portadores y su movilidad

dc.contributorHUGO RICARDO NAVARRO CONTRERAS;2128
dc.contributorFRANCISCO JAVIER DE ANDA SALAZAR;1159
dc.creatorJOSE LUIS SOTO PIÑA;CA1240549
dc.creatorSoto Piña, José Luis
dc.date2014-08-04T15:48:56Z
dc.date2014-08-04T15:48:56Z
dc.date1997-03
dc.date1997-03
dc.date.accessioned2023-07-17T20:32:35Z
dc.date.available2023-07-17T20:32:35Z
dc.identifierMaestría en Ingeniería Eléctrica
dc.identifierhttps://repositorioinstitucional.uaslp.mx/xmlui/handle/i/2461
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7517448
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherFacultad de Ingeniería
dc.relationInvestigadores
dc.relationEstudiantes
dc.relationversión publicada
dc.relationREPOSITORIO NACIONAL CONACYT
dc.rightsAcceso abierto
dc.rightsAcceso abierto
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subject7 INGENIERIA Y TECNOLOGIA
dc.titleMediciones de reflectancia en el lejano infrarrojo demuestras de GaSb crecidas mediante LPE para conocerla concentración de portadores y su movilidad
dc.typeTesis de Maestria


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