Estudio de la nanoestructura de películas delgadas semiconductoras utilizando microscopia de fuerza atómica

dc.creatorRuiz, Facundo;0000-0001-6589-5958
dc.date2015-03-18T16:29:16Z
dc.date2015-03-18T16:29:16Z
dc.date1995-09
dc.date.accessioned2023-07-17T20:29:58Z
dc.date.available2023-07-17T20:29:58Z
dc.identifierhttps://repositorioinstitucional.uaslp.mx/xmlui/handle/i/3236
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7516271
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherFacultad de Ciencias
dc.relationInvestigadores
dc.relationEstudiantes
dc.relationversión publicada
dc.rightsAcceso Abierto
dc.rightsAcceso abierto
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectPelículas delgadas
dc.subject1 CIENCIAS FISICO MATEMATICAS Y CIENCIAS DE LA TIERRA
dc.titleEstudio de la nanoestructura de películas delgadas semiconductoras utilizando microscopia de fuerza atómica
dc.typeTesis de Doctorado


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