México | Tesis de maestría

Estudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización

dc.contributorSantana Rodríguez, Guillermo
dc.creatorHamui Balas, León
dc.date.accessioned2023-06-27T02:36:00Z
dc.date.available2023-06-27T02:36:00Z
dc.date.issued2011
dc.identifierhttps://ru.dgb.unam.mx/handle/DGB_UNAM/TES01000666972
dc.identifierhttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?func=direct&current_base=TES01&doc_number=000666972
dc.identifier001-00347-H1-2011
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7059151
dc.languagespa
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.rightsAcceso en línea sin restricciones
dc.subjectPropiedades ópticas
dc.subjectMateriales nanoestructurados
dc.titleEstudio de las propiedades ópticas y electrónicas de películas de silicio polimorfo nanoestructurado obtenidas por PEVCD y desarrollo de sistemas y programas para su caracterización
dc.typeTesis de maestría
dc.typepublishedVersion


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