Medicion del espesor de recubrimientos metalicos con rayos X de fluorescencia inducidos por fuentes radiactivas

dc.creatorPacchiano Ramos-Cárdenas, Agelica
dc.date.accessioned2023-06-26T10:07:12Z
dc.date.available2023-06-26T10:07:12Z
dc.date.issued1970
dc.identifierhttps://ru.dgb.unam.mx/handle/DGB_UNAM/TES01000066739
dc.identifier001-00323-P3-1970-10
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7038675
dc.languagespa
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.rightsAcceso en sitio sin restricciones
dc.subjectRayos X
dc.titleMedicion del espesor de recubrimientos metalicos con rayos X de fluorescencia inducidos por fuentes radiactivas
dc.typeTesis de licenciatura
dc.typepublishedVersion


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