Homotopía aplicada a la prueba de circuitos integrados analógicos en la búsqueda de fallas de fabricación

dc.creatorVázquez Martínez, Gonzalo
dc.date2015-09-02T16:16:01Z
dc.date2015-09-02T16:16:01Z
dc.date2015
dc.date.accessioned2017-04-03T16:44:31Z
dc.date.available2017-04-03T16:44:31Z
dc.identifierhttp://cdigital.uv.mx/handle/123456789/39470
dc.identifier.urihttp://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/685623
dc.descriptionTesis presentada a la Facultad de Instrumentación Electrónica de la Universidad Veracruzana. Región Xalapa.
dc.languagees
dc.subjectHomotopía
dc.subjectCircuitos integrados--Puebas
dc.subjectCircuitos integrados lineales--Fallas
dc.titleHomotopía aplicada a la prueba de circuitos integrados analógicos en la búsqueda de fallas de fabricación
dc.typeTesis


Este ítem pertenece a la siguiente institución