Estudio de caracterización de superficies cerámicas por microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido (SEM) en función a diferentes tratamientos de superficies

dc.contributorFernández Pedrero, José Arturo
dc.creatorTreviño Santos, Alejandro
dc.date.accessioned2023-06-22T15:39:21Z
dc.date.available2023-06-22T15:39:21Z
dc.date.issued2009
dc.identifierhttps://ru.dgb.unam.mx/handle/DGB_UNAM/TES01000650081
dc.identifierhttps://tesiunam.dgb.unam.mx/F?func=direct&current_base=TES01&doc_number=000650081
dc.identifier001-11262-T2-2009
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/6763972
dc.languagespa
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.rightsAcceso en línea sin restricciones
dc.subjectMicroscopía electrónica de barrido
dc.subjectAplicación
dc.subjectMicroscopía de fuerza atómica
dc.subjectCerámica dental
dc.subjectAnálisis
dc.subjectBiología humana
dc.subjectCiencias médicas
dc.subjectMedicina
dc.subjectEnfermedades
dc.subjectPatología
dc.subjectCiencias de la vida
dc.titleEstudio de caracterización de superficies cerámicas por microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido (SEM) en función a diferentes tratamientos de superficies
dc.typeTesis de maestría
dc.typepublishedVersion


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