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Análisis de fallas de circuito abierto de transistor en convertidores CC-CC con puentes duales activos trifásicos para aplicaciones en microrredes
Fecha
2018-10-03Registro en:
Ochoa Sosa, J. E., Nuñez, R. O., Oggier, G. G., y García, G. O. (2018). Análisis de Fallas de Circuito Abierto de Transistor en Convertidores CC-CC con Puentes Duales Activos Trifásicos para Aplicaciones en Microrredes. Simposio Iberamericano en Microrredes Inteligentes con Integración de Energías Renovables (II: 2018 Octubre 3-4: Foz de Iguazú, Paraná. Brasil) Foz de Iguazú, Brasil: CYTED. MEIHAPER, 7 p.
CCPI-FI-DC-003
6395
Autor
Ochoa Sosa, Jonathan Emmanuel
Nuñez, Rubén Orlando
Oggier, German Gustavo
García, Guillermo Oscar
Institución
Resumen
En este trabajo se presenta el análisis del funcionamiento de un Convertidor CC-CC con Puentes Duales Activos Trifásicos para aplicaciones en microrredes eléctricas, antes y luego de un evento de falla de circuito abierto de transistor. Se identifican los principales síntomas del convertidor, para las condiciones de funcionamiento mencionadas, a través de las formas de ondas de tensiones y
corrientes del convertidor. En base a este análisis, es posible identificar el semiconductor que presenta la falla y su ubicación en el circuito. Con el objetivo de validar el análisis se presentan resultados de simulación.