Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz

dc.contributorAraya Pochet, José Alberto
dc.creatorRamírez Porras, Arturo
dc.date2013-09-30T20:53:48Z
dc.date2013-09-30T20:53:48Z
dc.date2005
dc.date.accessioned2023-03-09T21:19:39Z
dc.date.available2023-03-09T21:19:39Z
dc.identifierhttp://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr:8080/jspui/handle/123456789/1091
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/6114017
dc.descriptionTesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005.
dc.languagees
dc.subjectOPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONES
dc.subjectSILICIO - PROPIEDADES ELECTRICAS
dc.subjectDIODOS EMISORES DE LUZ
dc.subjectDISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS
dc.titleAplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz


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