dc.contributorhttps://orcid.org/0000-0003-0087-8991
dc.creatorRodríguez Vargas, Isaac
dc.creatorGaggero Sager, Luís Manuel
dc.date.accessioned2018-08-13T16:12:35Z
dc.date.available2018-08-13T16:12:35Z
dc.date.created2018-08-13T16:12:35Z
dc.date.issued2004-12
dc.identifier0035-001X
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/20.500.11845/630
dc.identifierhttps://doi.org/10.48779/nxz2-rc70
dc.description.abstractCalculamos la estructura de niveles electrónicos (tipo-n), as´ı como la de huecos (tipo-p) de pozos cuánticos ±-dopados dobles (DDD) en GaAs. Se han tomando en cuenta los efectos de intercambio en el estudio. Las aproximaciones de Thomas-Fermi (TF) y Thomas-Fermi-Dirac (TFD) han sido implementadas para describir el doblamiento de la banda de conducci´on y de valencia respectivamente. El estudio de la estructura de niveles electr´onicos y de huecos revela que los efectos de muchos cuerpos son más importantes en los pozos DDD tipo-p que en los DDD tipo-n. De la misma manera nuestros resultados están en buen acuerdo con los datos experimentales disponibles.
dc.languageeng
dc.publisherSociedad Mexicana de Física, A.C.
dc.relationgeneralPublic
dc.relationhttp://www.scielo.org.mx/pdf/rmf/v50n6/v50n6a10.pdf
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/us/
dc.rightsAtribución-NoComercial-CompartirIgual 3.0 Estados Unidos de América
dc.sourceRevista mexicana de física, Vol. 50, No 6, Pág. 614–619
dc.titleSubband structure comparison between n- and p-type double delta-doped GaAs quantum wells
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article


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