Caracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia

dc.creatorC. Palavicini
dc.creatorY. Jaouën
dc.creatorP. Gallion
dc.creatorG. Campuzano
dc.date.accessioned2019-10-08T20:35:42Z
dc.date.accessioned2022-10-13T21:52:07Z
dc.date.available2019-10-08T20:35:42Z
dc.date.available2022-10-13T21:52:07Z
dc.date.created2019-10-08T20:35:42Z
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/11285/635098
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/4223088
dc.publisherSociedad Mexicana de Física A.C.
dc.relationhttp://www.redalyc.org/revista.oa?id=570
dc.rightsRevista Mexicana de Física
dc.sourceRevista Mexicana de Física (México) Num.4 Vol.52
dc.subjectFísica, Astronomía y Matemáticas
dc.subjectReflectometría de baja coherencia caracterización de dispositivos fotónicos
dc.titleCaracterización de componentes fotónicos utilizando reflectometría óptica de baja coherencia
dc.typeArtículo científico


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