| dc.description.abstract | “La interferometría de corrimiento de fase (PSI, por sus siglas en inglés PhaseShifting Interferometry) es un método capaz de obtener la fase deseada resolviendo un sistema de ecuaciones formado por tres o más interferogramas con pasos de fase conocidos e iguales [1]. Debido a su alta precisión, PSI ha sido empleado con éxito en muchos campos de la ciencia y la tecnología, como física, astronomía, biología, química, medicina, mecánica, metrología, microscopía, holografía, entre muchos otros. Se ha empleado para medir el índice de refracción en medios transparentes, incluidos gases, líquidos, sólidos y plasma, y por lo tanto, para medir viscosidad, densidad, permitividad, difusión, temperatura, homogeneidad, pureza, etc.; también se ha utilizado para medir el desplazamiento angular o lineal o distancias muy cortas y, por lo tanto, se mide grosor, rugosidad, topografía, modos de vibración en materiales, entre otras características [2, 3]. En 1974 Brunning et al [1] utiliza por primera vez el método PSI en el cual hace uso de un transductor piezo-eléctrico el cual tiene la función de crear los pasos de fase. A partir de aquí surgieron diversas propuestas y métodos para producir corrimientos de fase utilizando diferentes materiales tales como polarizadores, rejillas, moduladores de luz espacial entre otros [3–8].” | |
