Placa plano paralela homogénea en interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado

Abstract

"Se mide el índice de refracción n, grosor d y posición angular θ de una placa plano paralela mediante un interferómetro de dos brazos. En el brazo de referencia se coloca un objeto que tiene como función crear un interferograma llamado patrón de referencia, mientras que en el brazo de prueba se coloca la placa plano paralela para ser estudiada. La placa introduce cambios de fase constantes que se reflejan en un corrimiento de las franjas en el patrón de referencia. La placa se rota a distintos ángulos θk conocidos y se capturan los patrones de interferencia que resultan. Los corrimientos de fase debidos al giro θk se miden utilizando la técnica de conteo de franjas para el número entero de las franjas e interferometría de corrimiento de fase generalizado y autocalibrado para la fracción en la franja, en particular se propone utilizar el método del volumen encerrado por una superficie VES (de sus siglas en inglés Volume Enclosed by a Surface). Los corrimientos se relacionan mediante una fórmula con n, d, θ y se forma un sistema de ecuaciones el cual se resuelve para conocer las variables deseadas"