Alternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.

dc.creatorHampp, Eugenio Ricardo
dc.date.accessioned2015-05-18T19:00:19Z
dc.date.available2015-05-18T19:00:19Z
dc.date.created2015-05-18T19:00:19Z
dc.date.issued2004
dc.identifierhttps://bibliotecadigital.ciren.cl/handle/20.500.13082/29103
dc.description.abstractLa Difractometría de Rayos X (DRX) es el método más efectivo para la determinación y reconocimiento de materiales cristalinos en suelos. Sin embargo, la obtención de difractogramas bien definidos es normalmente dificultosa en ciertos suelos de contenidos de arcilla relativamente bajos.
dc.languagees
dc.sourceBTEL-CFB-CD-029
dc.subjectDifractometría de Rayos X
dc.subjectCristales
dc.subjectSuelos
dc.subjectMetodología
dc.subjectArcilla
dc.titleAlternativas en pretratamientos de arcillas de suelos para difractometría de Rayos X.
dc.typeArtículo de revista


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