dc.contributor | Muñoz Alvarado, Raúl | |
dc.contributor | Palma Behnke, Rodrigo | |
dc.contributor | Beltrán Maturana, Nicolás | |
dc.contributor | Facultad de Ciencias Físicas y Matemáticas | |
dc.contributor | Departamento de Ingeniería Eléctrica | |
dc.creator | Chen Lee, David | |
dc.date.accessioned | 2012-09-12T18:18:57Z | |
dc.date.available | 2012-09-12T18:18:57Z | |
dc.date.created | 2012-09-12T18:18:57Z | |
dc.date.issued | 2007 | |
dc.identifier | https://repositorio.uchile.cl/tesis/uchile/2007/chen_d/html/index-frames.html | |
dc.identifier | https://repositorio.uchile.cl/handle/2250/104843 | |
dc.language | es | |
dc.publisher | Universidad de Chile | |
dc.publisher | Programa Cybertesis | |
dc.rights | Chen Lee, David | |
dc.subject | Ingeniería | |
dc.subject | Fractalidad | |
dc.subject | Rugosidad superficial | |
dc.subject | Autocorrelación | |
dc.subject | Películas delgadas | |
dc.subject | Granos de oro | |
dc.subject | Bordes de grano | |
dc.subject | STM | |
dc.subject | Microscópio de efecto túnel | |
dc.title | ¿Es la rugosidad superficial de películas delgadas de oro consistente con un modelo fractal? | |
dc.type | Tesis | |