dc.contributorMuñoz Alvarado, Raúl
dc.contributorPalma Behnke, Rodrigo
dc.contributorBeltrán Maturana, Nicolás
dc.contributorFacultad de Ciencias Físicas y Matemáticas
dc.contributorDepartamento de Ingeniería Eléctrica
dc.creatorChen Lee, David
dc.date.accessioned2012-09-12T18:18:57Z
dc.date.available2012-09-12T18:18:57Z
dc.date.created2012-09-12T18:18:57Z
dc.date.issued2007
dc.identifierhttps://repositorio.uchile.cl/tesis/uchile/2007/chen_d/html/index-frames.html
dc.identifierhttps://repositorio.uchile.cl/handle/2250/104843
dc.languagees
dc.publisherUniversidad de Chile
dc.publisherPrograma Cybertesis
dc.rightsChen Lee, David
dc.subjectIngeniería
dc.subjectFractalidad
dc.subjectRugosidad superficial
dc.subjectAutocorrelación
dc.subjectPelículas delgadas
dc.subjectGranos de oro
dc.subjectBordes de grano
dc.subjectSTM
dc.subjectMicroscópio de efecto túnel
dc.title¿Es la rugosidad superficial de películas delgadas de oro consistente con un modelo fractal?
dc.typeTesis


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