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Inicio
Chile
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ANID (Chile)
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Tesis
Estudio y aplicación de digital shearography como sistema para detección de defecto superficiales y subsuperficiales
Fecha
2006
Registro en:
http://hdl.handle.net/10533/191386
1030399
Autor
LIRA CANGUILHEM, IGNACIO HECTOR
PONTIFICIA UNIVERSIDAD CATOLICA DE CHILE/FACULTAD DE INGENIERIA/ESCUELA DE INGENIERIA
Institución
ANID (Chile)
Materias
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