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Inicio
Chile
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ANID (Chile)
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Proyecto
A GENERAL METHODOLOGY FOR ROBUST AUTOMATED X-RAY TESTING OF COMPLEX STRUCTURES BASED ON ADAPTIVE MULTIPLE VIEW PLANNING
Fecha
2010
Registro en:
http://hdl.handle.net/10533/120273
1100830
M
7847566
8
Autor
Pontificia Universidad Católica de Chile
Institución
ANID (Chile)
Materias
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Instituciones
Fecha
2011 - 2020
2001 - 2010
1951 - 2000
1901 - 1950
1800 - 1900
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