El control local de microondas evanescentes es investigado experimentalmente usando un microscopio de barrido de campo cercano en el rango de microondas. Las capacidades del microscopio y la contribución, en las imágenes de campo cercano, de componentes de campo propagativas que proviene de esparcimiento inelástico (fuera del plano) fueron investigadas. Un sistema de espejos bidimensional que sirven para un control local de modos evanescentes es mostrado junto con su correspondiente imagen de cercano-campo y su eficacia es discutida. Nosotros creemos que la aproximación experimental presentada es confiable para ser utilizada como prueba potencial de micro-componentes (de dos dimensiones) y eventualmente para micro y nano-circuitos.Local control of evanescent microwaves is experimentally investigated using a scanning near-field microwave microscope. The capabilities of the microscope and the contribution, on the near field images, of propagating field components stemming from inelastic (out-of-plane) scattering were elucidated. A set of two-dimensional mirrors for a local control of evanescent modes are shown along with their corresponding near-field image, and their efficiency is discussed. We believe that the experimental approach used is reliable enough to be used as a check of potential (two-dimensional) micro-components and possibly for micro and nano-circuits.