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Near-field microscopy of evanescent microwavesNear-field microscopy of evanescent microwaves
(Revista Mexicana de Física, 2009)
Crecimiento y caracterización de películas delgadas de Sn1-xFexO2 obtenidas por pulverización catódica (sputtering) y su aplicación como sensor de GLP
(Universidad Nacional de San Agustín de ArequipaPE, 2021)
Se crecieron exitosamente películas delgadas y gruesas de Sn1-xFexO2, con x=0.00; 0.01; 0.02; 0.03; 0.04 y 0.05 por el método de pulverización catódica por corriente directa (sputtering). Las películas fueron depositadas ...