Determinação da evolução estrutural em função da temperatura de cerâmicas ferroelétricas relaxoras do sistema PLZT

Determination of the structural evolution as a function of temperature of relaxor ferroelectric ceramics of the PLZT system;
Determinación de la evolución estructural en función de la temperatura de cerámicas ferroeléctricas de relajación del sistema PLZT

dc.contributorBotero, Eriton Rodrigo
dc.contributor0000-0003-3531-6016
dc.contributorhttp://lattes.cnpq.br/8529549983857097
dc.contributorNobrega, Jaldair Araujo
dc.contributor0000-0002-1079-2780
dc.contributorhttp://lattes.cnpq.br/1566935477819559
dc.contributorFalcão, Evaristo Alexandre
dc.contributor0000-0002-3778-1723
dc.contributorhttp://lattes.cnpq.br/7389849773667132
dc.contributorMilton, Flavio Paulo
dc.contributor0000-0003-2150-3347
dc.contributorhttp://lattes.cnpq.br/3979434688119440
dc.creatorAlbano, Vanessa da Silva
dc.date2023-06-01T14:13:24Z
dc.date2023-06-01T14:13:24Z
dc.date2023-01-30
dc.date.accessioned2023-09-29T12:28:56Z
dc.date.available2023-09-29T12:28:56Z
dc.identifierALBANO, Vanessa da Silva. Determinação da evolução estrutural em função da temperatura de cerâmicas ferroelétricas relaxoras do sistema PLZT. 2023. 57 f. Dissertação (Mestrado em Ciência e Tecnologia Ambiental) - Faculdade de Ciências Exatas e Tecnologia, Universidade Federal da Grande Dourados, Dourados, 2023.
dc.identifierhttp://repositorio.ufgd.edu.br/jspui/handle/prefix/5556
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/9104319
dc.descriptionThe present work describes the analysis of the structural properties of lanthanummodified lead zirconate titanate (PLZT) ceramics as a function of temperature, in order to identify the crystalline phases present. The refinement of such samples, was performed by the Rietveld method, using the refinement program General Structure Analysis System (GSAS), by means of diffraction profiles at high resolution, obtained at the facilities of the National Synchrotron Light Laboratory, specifically, through the XPD beamline, subject to: E = 9.00352 keV, λ = 1.3775 Ǻ, step scan (2θ between 15° and 120°, with 0.02° step, 1s per step), with Ge analyzer (111). At first, by means of the single phase refinement protocol, the cubic lattice crystal symmetry was admitted, for all profiles; subsequently, the structural refinement used distinct crystal symmetries, all predicted for PLZT: the tetragonal crystalline system, the orthorhombic crystalline system, and the rhombohedral crystalline system. However, through the results obtained from this refinement, it was observed that, the orthorbombic and rhombohedral crystalline systems, did not present coherence in the refinement, although described in the phase diagram of PLZT. The results also suggested that the material presents tetragonal symmetry (P4mm) below TB and above TB, cubic symmetry (Pm-3m). The analysis of the agreement factors obtained in this stage of the study, however, showed that a dual phase refinement would be necessary to describe the PLZT system. Thus, considering the presence of two crystalline symmetries in the samples, refinements were performed, and the results were compared to the single phase refinements, the dielectric profile of the system, and the phase diagram of PLZT. It was observed that the PLZT 9/65/35 composition, as substantiated by previous studies and the literature, consists of a composition of tetragonal-cubic crystalline symmetries, evolving to a single cubic symmetry state by the influence of increasing temperature.
dc.descriptionO presente trabalho descreve a análise das propriedades estruturais de cerâmicas de titanato zirconato de chumbo modificado com lantânio (PLZT) em função da temperatura, com vistas a identificar as fases cristalinas presentes. O refinamento de tais amostras, foi realizado pelo método de Rietveld, usando o programa de refinamento General Structure Analysis System (GSAS), por meio de perfis de difração em alta resolução, obtidos nas instalações do Laboratório Nacional de Luz Sincrotron, especificamente, através da linha de luz XPD, sujeitos a: E = 9,00352 keV, λ = 1,3775 Ǻ, varredura em etapas (2θ entre 15o e 120o, com passo de 0,02o, 1s por passo), com analisador Ge (111). A princípio, mediante o protocolo de refinamento de fase única, admitiu-se a simetria cristalina de rede cúbica, para todos os perfis; posteriormente, o refinamento estrutural utilizou-se de distintas simetrias cristalinas, todas previstas para o PLZT: o sistema cristalino tetragonal, o sistema cristalino ortorrômbico e o sistema cristalino romboédrico. No entanto, mediante os resultados obtidos a partir deste refinamento, observou-se que, os sistemas cristalinos ortorrômbico e romboédrico, não apresentaram coerência no refinamento, embora descritos no diagrama de fases do PLZT. Os resultados sugeriram ainda que o material apresenta simetria tetragonal (P4mm) abaixo de TB e acima desta, simetria cúbica (Pm-3m). A análise dos fatores de concordância auferidos nesta etapa do estudo, evidenciaram, contudo, que um refinamento de fase dupla seria necessário para descrição do sistema PLZT. Assim, considerando a presença de duas simetrias cristalinas nas amostras, foram realizados refinamentos cujos resultados foram confrontados aos refinamentos de fase única, ao perfil dielétrico do sistema e ao diagrama de fases do PLZT. Observou-se que a composição PLZT 9/65/35, assim como fundamentam estudos anteriores e a literatura, consiste em uma composição de simetrias cristalinas tetragonal-cúbica, evoluindo para um estado de única simetria cúbica por influência do aumento da temperatura.
dc.descriptionCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)
dc.languagepor
dc.publisherUniversidade Federal da Grande Dourados
dc.publisherBrasil
dc.publisherFaculdade de Ciências Exatas e Tecnologia
dc.publisherPrograma de pós-graduação em Ciências e Tecnologia Ambiental
dc.publisherUFGD
dc.rightsAcesso Aberto
dc.subjectFerroeletricidade
dc.subjectComportamento relaxor
dc.subjectMétodo de Rietveld
dc.subjectFerroelectricity
dc.subjectRelaxation behavior
dc.subjectRietveld method
dc.subjectCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA::FISICA DA MATERIA CONDENSADA
dc.titleDeterminação da evolução estrutural em função da temperatura de cerâmicas ferroelétricas relaxoras do sistema PLZT
dc.titleDetermination of the structural evolution as a function of temperature of relaxor ferroelectric ceramics of the PLZT system
dc.titleDeterminación de la evolución estructural en función de la temperatura de cerámicas ferroeléctricas de relajación del sistema PLZT
dc.typeDissertação


Este ítem pertenece a la siguiente institución