Estudo da influ??ncia de impurezas e da qualidade das superf??cies em cristais de brometo de t??lio para aplica????o como um detector de radia????o
Study on impurities influence and quality of surfaces of thallium bromide crystals for use as a radiation detector
| dc.contributor | Margarida Mizue Hamada | |
| dc.creator | SANTOS, ROBINSON A. dos | |
| dc.date | 2016 | |
| dc.date | 2016-11-11T13:09:25Z | |
| dc.date | 2016-11-11T13:09:25Z | |
| dc.date.accessioned | 2023-09-28T13:31:27Z | |
| dc.date.available | 2023-09-28T13:31:27Z | |
| dc.identifier | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/26818 | |
| dc.identifier | 10.11606/T.85.2016.tde-29072016-143254 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8997111 | |
| dc.description | Neste trabalho, cristais de TlBr foram crescidos e purificados pelo m??todo de Bridgman Repetido, a partir de sais comerciais de TlBr, e caracterizados para serem usados como detectores de radia????o ?? temperatura ambiente. Para avaliar a efici??ncia de purifica????o, estudos da diminui????o da concentra????o de impurezas foram feitos ap??s cada crescimento, analisando as impurezas tra??o por Espectrometria de Massas com Plasma (ICP-MS). Um decr??scimo significativo da concentra????o de impurezas em fun????o do n??mero de purifica????es foi observado. Os cristais crescidos apresentaram boa qualidade cristalina de acordo com os resultados de an??lise por Difra????o de Raios X (DRX), boa qualidade morfol??gica e estequiometria adequada de acordo com os resultados de an??lise por MEV(SE) e MEV(EDS). Um modelo matem??tico definido por equa????es diferenciais foi desenvolvido para avaliar as concentra????es de impurezas no cristal de TlBr e suas segrega????es em fun????o do n??mero de crescimentos pelo m??todo de Bridgman. Este modelo pode ser usado para calcular o coeficiente de migra????o das impurezas e mostrou ser ??til para prever o n??mero necess??rio de repeti????es de crescimento Bridgman para atingir n??vel de pureza adequado para assegurar a qualidade do cristal como detector de radia????o. Os coeficientes se segrega????o obtidos s??o par??metros importantes para an??lise microestrutural e an??lise de transporte de cargas nos cristais detectores. Para avaliar os cristais a serem usados como detectores de radia????o, medidas de suas resistividades e resposta ?? incid??ncia de radia????o gama das fontes de 241Am (59,5keV) e 133Ba (81 keV) foram realizadas. Essa resposta foi dependente da pureza do cristal. Os detectores apresentaram um avan??o significativo na efici??ncia de coleta de cargas em fun????o da pureza. | |
| dc.description | Tese (Doutorado em Tecnologia Nuclear) | |
| dc.description | IPEN/T | |
| dc.description | Instituto de Pesquisas Energeticas e Nucleares - IPEN-CNEN/SP | |
| dc.format | 97 | |
| dc.rights | openAccess | |
| dc.subject | polycrystals | |
| dc.subject | crystal growth methods | |
| dc.subject | crystal structure | |
| dc.subject | plasma impurities | |
| dc.subject | phase diagrams | |
| dc.subject | phase transformations | |
| dc.subject | bridgman method | |
| dc.subject | x-ray diffraction | |
| dc.subject | scanning electron microscopy | |
| dc.subject | secondary beams | |
| dc.subject | secondary emission | |
| dc.subject | electron microprobe analysis | |
| dc.subject | electroluminescence | |
| dc.subject | radiation detectors | |
| dc.subject | semiconductor detectors | |
| dc.subject | thallium bromides | |
| dc.subject | halogen compounds | |
| dc.title | Estudo da influ??ncia de impurezas e da qualidade das superf??cies em cristais de brometo de t??lio para aplica????o como um detector de radia????o | |
| dc.title | Study on impurities influence and quality of surfaces of thallium bromide crystals for use as a radiation detector | |
| dc.type | Tese | |
| dc.coverage | N | |
| dc.local | S??o Paulo |