| dc.contributor | Petraglia, Antonio | |
| dc.contributor | Soares, Carlos Fernando Teodósio | |
| dc.contributor | Gomes, Jose Gabriel Rodriguez Carneiro | |
| dc.contributor | Baruqui, Fernando A. P. | |
| dc.creator | Campos, Gustavo dos Santos de | |
| dc.date | 2019-05-03T14:10:39Z | |
| dc.date | 2023-09-27T03:00:37Z | |
| dc.date | 2010-08 | |
| dc.date.accessioned | 2023-09-27T13:25:40Z | |
| dc.date.available | 2023-09-27T13:25:40Z | |
| dc.identifier | http://hdl.handle.net/11422/7727 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8906941 | |
| dc.description | Uma importante classe de circuitos eletrônicos realizados em circuitos integrados (CIs) para desempenhar funções fundamentais em instrumentação - filtros, conversores analógico-digital e digital-analógico – requer razões de capacitâncias com elevada precisão. Tipicamente, os erros devem ser menores que 1%. Portanto, além da investigação de métodos para minimizar tais erros, há também interesse em disponibilizar um método de verificação da precisão obtida após a fabricação do CI. Neste trabalho, um procedimento preciso de medida de razões de capacitâncias está sendo desenvolvido, com a utilização de filtros a capacitores chaveados estruturalmente passa-tudo de segunda ordem. A técnica é baseada no fato de que a resposta em freqüência da soma de dois desses filtros produz zeros de transmissão em freqüências pré-determinadas, que dependem diretamente da razão entre duas capacitâncias [2], [3]. O projeto consistirá, primeiramente, na análise teórica da estrutura de medidas e, posteriormente, no projeto dos componentes do filtro – chaves analógicas e amplificadores. No desenvolvimento das chaves analógicas serão considerados efeitos típicos como a injeção de carga e o clock feedthrough. Já nos amplificadores, o projeto levará em consideração o tempo de estabilização e a carga total vista pelo amplificador. O projeto seguirá com o teste individual dos componentes e com o teste da estrutura de medidas. Após a comparação entre os valores simulados e teóricos, serão desenvolvidos os Layouts para a fabricação do circuito integrado. A partir das diferenças entre as freqüências esperadas e medidas no CI, serão obtidos os erros de realização das razões. A principal vantagem desta técnica está relacionada com a propriedade dos filtros estruturalmente passa-tudo produzirem zeros bem definidos mesmo na ocorrência de variações no processo de fabricação. | |
| dc.language | por | |
| dc.publisher | Universidade Federal do Rio de Janeiro | |
| dc.publisher | Brasil | |
| dc.publisher | Escola Politécnica | |
| dc.publisher | UFRJ | |
| dc.rights | Acesso Aberto | |
| dc.subject | Microeletrônica | |
| dc.subject | Circuitos integrados | |
| dc.subject | CNPQ::ENGENHARIAS | |
| dc.title | Estimação de razões de capacitâncias usando filtros estruturalmente passa-tudo a capacitores chaveados | |
| dc.type | Trabalho de conclusão de graduação | |
