dc.contributorGrupo de Investigación Ecitrónica
dc.creatorAperador Chaparro, William Arnulfo
dc.creatorVera López, Enrique
dc.creatorRíos, Alejandra
dc.creatorCamargo, Ariel
dc.creatorOrtiz, Cesar Armando
dc.date.accessioned2023-05-26T17:55:47Z
dc.date.accessioned2023-09-06T21:15:50Z
dc.date.available2023-05-26T17:55:47Z
dc.date.available2023-09-06T21:15:50Z
dc.date.created2023-05-26T17:55:47Z
dc.date.issued2007
dc.identifier0122-1701
dc.identifierhttps://repositorio.escuelaing.edu.co/handle/001/2373
dc.identifier2344-7214
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8707047
dc.description.abstractSe presenta la técnica de corriente directa (DC) para obtener películas de Al2O3 sobre aluminio 2024-T3 a diferentes densidades de corriente usando soluciones de H2SO4. Para obtener las películas, se trabajo con concentración del electrolito del 15% v/v, temperatura de 20°C, pH=5, durante 30 minutos. Monitoreando el potencial anódico mediante software en LabVIEW. Las películas se caracterizaron por microscopia óptica, microscopia electrónica de barrido (MEB) y con difracción de rayos X (DRX). Los resultados muestran la influencia de la densidad de corriente en la formación de películas de óxido más densas y con tamaño de grano mas fino.
dc.description.abstractShows up the technique of direct current (DC) to obtain films of Al2O3 on aluminum 2024-T3 to different current densities using solutions of H2SO4..To obtain the films, you work with concentration of the electrolyte of 15% v/v, temperature of 20°C, pH=5, during 30 minutes. The anodic potential are checking throug software LabVIEW. The films were characterized by optic microscopy and, Scaning electronic microscopy (SEM) and with diffraction of X rays (DRX). The results show the influence of the current density in the formation of oxide denser and with size of more fine.
dc.languagespa
dc.publisherUniversidad Tecnológica de Pereira
dc.publisherColombia
dc.relation335
dc.relation36
dc.relation331
dc.relation1
dc.relationN/A
dc.relationScientia et Technica
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dc.rightshttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsAtribución-NoComercial-SinDerivadas 4.0 Internacional (CC BY-NC-ND 4.0)
dc.titleCaracterización morfológica de películas anódicas crecidas sobre AL 2024-T3 mediante el uso de corriente directa
dc.typeArtículo de revista


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