Microscopía de Efecto Túnel para la Caracterización de Nanoestructuras

dc.creatorVitti, Javier Oscar
dc.creatorMendoza, Sandra Marina
dc.date2021-08-23T21:25:43Z
dc.date2021-08-23T21:25:43Z
dc.date2020-10-29
dc.date.accessioned2023-08-31T14:24:51Z
dc.date.available2023-08-31T14:24:51Z
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/20.500.12272/5391
dc.identifierhttps://doi.org/10.33414/ajea.8.860.2020
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8547356
dc.descriptionEl microscopio de efecto túnel (Scanning Tunneling Microscope o STM, en inglés) es un instrumento diseñado para obtener imágenes con resolución atómica de superficies de materiales conductores. En esta técnica, una pequeña punta metálica se aproxima a la superficie de un material hasta una distancia del orden de los angstroms, de tal manera que si se aplica una diferencia de potencial se establece una corriente eléctrica débil por efecto túnel. A medida que la punta recorre la muestra, se obtiene información de la densidad electrónica de los estados de la superficie. Luego, a partir de esa información se consigue generar una imagen. En este trabajo se presenta el funcionamiento del microscopio de efecto túnel y las ventajas que ofrece para el estudio de nuevos materiales basados en óxidos mixtos y estructuras complejas orgánico-metálicas. El mismo, se enmarca dentro de la beca de Estímulo a las Vocaciones Científicas del Consejo Interuniversitario Nacional, Convocatoria 2019.
dc.descriptionFil: Vitti, Javier Oscar. UTN FRRq; Argentina
dc.descriptionFil: Mendoza, Sandra Marina. UTN FRRq; Argentina
dc.descriptionPeer Reviewed
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightsN/A
dc.subjectMicroscopio de Efecto Túnel; STM; Caracterización de nanoestructuras
dc.titleMicroscopía de Efecto Túnel para la Caracterización de Nanoestructuras
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/other
dc.typepublisherVersion


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