| dc.contributor | Torga, Jorge Roman | |
| dc.creator | Morel, Eneas Nicolas | |
| dc.date | 2020-10-19T17:33:27Z | |
| dc.date | 2020-10-19T17:33:27Z | |
| dc.date | 2012 | |
| dc.date.accessioned | 2023-08-31T14:12:31Z | |
| dc.date.available | 2023-08-31T14:12:31Z | |
| dc.identifier | http://hdl.handle.net/20.500.12272/4581 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8546750 | |
| dc.description | En ta tesis se presenta la técnica de interferometria de baja coherencia, como un para caracterizar superficies y espesores tanto en materiales opacos como semitransparentes. La técnica permite medir con precisión en el orden del micrón y con rango dinámico en el orden del centímetro. El trabajo se orientó a la caracterización de materiales por medio de topografia y tomografia óptica, para aplicaciones industriales, particularmente en la determinación de parámetros de forma, perfilometria de superficie y medición de espesores, entre otras. Se presenta un estudio detallado del proceso de detección y adquisición y los efectos sobre la señal de interferencia. Se muestran los resultados obtenidos con los sistemas experimentales utilizados, sobre muestras metálicas, películas de grasas, polímeros y films de vidrio. Se propone un nuevo esquema interferometrico capaz de realizar las mediciones de espesores en muestras opacas y semitransparentes sin la necesidad de conocer el índice de refracción. Por medio de este esquema también se pueden determinar las topografias de ambas caras de una muestra. | |
| dc.description | Fil: Morel, Eneas Nicolas. Universidad Tecnológica Nacional. Facultad Regional Delta; Argentina. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/ | |
| dc.rights | Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional | |
| dc.rights | Morel, Eneas | |
| dc.rights | Atribución – No Comercial – Compartir Igual (by-nc-sa) | |
| dc.subject | Óptica | |
| dc.subject | Interferometria | |
| dc.subject | Caracterización de materiales | |
| dc.subject | UTN | |
| dc.subject | FRD | |
| dc.title | Desarrollo de interferometria optica de baja coherencia para la aplicación a la caracterización de materiales | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/updatedVersion | |
