Estudo do tipo octo em ambientes de radiações ionizantes de raios-x

dc.contributorGimenez, S. P.
dc.creatorLoesch, D. S.
dc.date2019-06-25T00:06:05Z
dc.date2023-05-03T20:36:41Z
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dc.date2019
dc.date.accessioned2023-08-24T11:32:37Z
dc.date.available2023-08-24T11:32:37Z
dc.identifierLOESCH, D. S. <b> Estudo do tipo octo em ambientes de radiações ionizantes de raios-x. </b> 2019. 99 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) - Centro Universitário FEI, São Bernardo do Campo, 2019 Disponível em: <https://doi.org/10.31414/EE.2019.D.130714>. Acesso em: 6 maio 2019.
dc.identifierhttps://hdl.handle.net/20.500.12032/89237
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8420044
dc.languagepor
dc.languagept_BR
dc.publisherCentro Universitário FEI, São Bernardo do Campo
dc.subjectRadiação ionizante
dc.subjectTransistor de efeito de campo de metal-óxido semicondutor
dc.subjectDepambrre
dc.titleEstudo do tipo octo em ambientes de radiações ionizantes de raios-x
dc.typeDissertação


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