dc.contributorMoya, Juan Carlos
dc.creatorLeón Carrera, Eladio Wilfrido
dc.date2017-06-21T22:35:36Z
dc.date2017-06-21T22:35:36Z
dc.date2012
dc.date.accessioned2023-08-10T13:30:35Z
dc.date.available2023-08-10T13:30:35Z
dc.identifierLeón Carrera, Eladio Wilfrido. 2012. Estudio comparativo de la caracterización topográfica con escáner láser y con métodos tradicionales de los taludes del paso lateral de Ambato. Escuela de Ingeniería Civil. UIDE. Quito Campus Norte. 129 p.
dc.identifierBEA'075376
dc.identifierhttp://repositorio.uide.edu.ec/handle/37000/2060
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/8148666
dc.descriptionRESUMEN La investigación topográfica ha experimentado, en los últimos años, avances dirigidos hacia el automatismo en la toma de datos, así como al registro continuo y muy detallado de los objetos. Mediante el escáner láser se realiza una captura masiva de información, al tiempo que se realiza una visualización inmediata y realista de la exploración efectuada, habiéndose demostrado con este trabajo las precisiones efectivas logradas, al compararlas con los relevamientos realizados con estación total y con receptor GPS, método RTK. Producto de esta demostración, se concluye que por rendimiento, precio unitario, seguridad física del personal y afectaciones a la propiedad privada, el uso del escáner láser es óptimo para el relevamiento topográfico, bajo condiciones climáticas alejadas de la presencia de lluvias y neblina, y sobre todo en situaciones en que la morfología del terreno, permite visuales panorámicas a distancias menores a 500m entre el equipo y la superficie auscultada.
dc.format129 p.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherQuito / UIDE / 2012
dc.rightsopenAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/3.0/ec/
dc.subjectTOPOGRAFÍA
dc.subjectGPS
dc.titleEstudio comparativo de la caracterización topográfica con escáner láser y con métodos tradicionales de los taludes del paso lateral de Ambato
dc.typebachelorThesis
dc.coverageSede Quito


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