Sistemas robustos a falhas transientes explorando circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos

dc.contributorReis, Ricardo Augusto da Luz
dc.contributorRenaudin, Marc
dc.contributorKastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
dc.contributorSicard, Gilles
dc.creatorBastos, Rodrigo Possamai
dc.date2011-08-16T06:01:21Z
dc.date2010
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/10183/31102
dc.identifier000781734
dc.descriptionOs circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos (QDI): a sua grande habilidade natural para mitigar falhas transientes de longa duração, que são severas em circuitos síncronos modernos. Uma metodologia para avaliar comparativamente os efeitos de falhas transientes tanto em circuitos síncronos como em circuitos assíncronos QDI é apresentada. Além disso, um método para obter a habilidade de mitigação de falhas transientes dos elementos de memória de circuitos QDI (ou seja, os C-elements) é também proposto. Por fim, técnicas de mitigação são sugeridas para aumentar ainda mais a atenuação de falhas transientes por parte dos Celements e, por consequência, também a robustez dos sistemas assíncronos QDI.
dc.descriptionRecent deep-submicron technology-based ICs are significantly more vulnerable to transient faults. The arisen errors are thus also more critical than they have ever been before. This thesis presents a further novel benefit of the Quasi-Delay Insensitive (QDI) asynchronous circuits in terms of reliability: their strong natural ability to mitigate longduration transient faults that are severe in modern synchronous circuits. A methodology to evaluate comparatively the transient-fault effects on synchronous and QDI asynchronous circuits is presented. Furthermore, a method to obtain the transient-fault mitigation ability of the QDI circuits’ memory elements (i.e., the C-elements) is also proposed. Finally, mitigation techniques are suggested to increase even more the Celements’ transient-fault attenuation, and thus also the QDI asynchronous systems’ robustness.
dc.formatapplication/pdf
dc.languageeng
dc.rightsOpen Access
dc.subjectDesign of robust or fault-tolerant systems
dc.subjectQDI asynchronous circuits
dc.subjectTransient faults
dc.subjectSoft errors
dc.subjectEvaluation of transient-fault effects
dc.subjectMicroeletrônica
dc.subjectMicroprocessadores
dc.subjectTolerancia : Falhas
dc.titleTransient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
dc.titleSistemas robustos a falhas transientes explorando circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos
dc.typeTese


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