| dc.contributor | Reis, Ricardo Augusto da Luz | |
| dc.creator | Pinto, Ana Cristina Medina | |
| dc.date | 2007-06-06T18:52:25Z | |
| dc.date | 2002 | |
| dc.identifier | http://hdl.handle.net/10183/6068 | |
| dc.identifier | 000480254 | |
| dc.description | Este trabalho tem como objetivo estudar e avaliar técnicas para a aceleração de algoritmos de análise de timing funcional (FTA - Functional Timing Analysis) baseados em geração automática de testes (ATPG – Automatic Test Generation). Para tanto, são abordados três algoritmos conhecidos : algoritmo-D, o PODEM e o FAN. Após a análise dos algoritmos e o estudo de algumas técnicas de aceleração, é proposto o algoritmo DETA (Delay Enumeration-Based Timing Analysis) que determina o atraso crítico de circuitos que contêm portas complexas. O DETA está definido como um algoritmo baseado em ATPG com sensibilização concorrente de caminhos. Na implementação do algoritmo, foi possível validar o modelo de computação de atrasos para circuitos que contêm portas complexas utilizando a abordagem de macro-expansão implícita. Além disso, alguns resultados parciais demonstram que, para alguns circuitos, o DETA apresenta uma pequena dependência do número de entradas quando comparado com a dependência no procedimento de simulação. Desta forma, é possível evitar uma pesquisa extensa antes de se encontrar o teste e assim, obter sucesso na aplicação de métodos para aceleração do algoritmo. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | por | |
| dc.rights | Open Access | |
| dc.subject | Microeletrônica | |
| dc.subject | Cad : Microeletronica | |
| dc.subject | Geracao automatica : Testes | |
| dc.subject | Testes : Circuitos integrados | |
| dc.title | Um Estudo de técnicas de aceleração para algoritmos de análise de timing funcional baseados em geração automática de teste | |
| dc.type | Dissertação | |
