dc.contributorSchmidt, Joao Edgar
dc.contributorGeshev, Julian Penkov
dc.creatorZagonel, Luiz Fernando
dc.date2007-06-06T17:28:45Z
dc.date2003
dc.identifierhttp://hdl.handle.net/10183/3464
dc.identifier000388803
dc.descriptionO crescimento de lmes nos ferromagnéticos sobre uma superfícies vicinal induz uma anisotropia uniaxial que atua juntamente com a anisotropia magnetocrislanina. Neste estudo, lmes nos de Co foram depositados sobre Si(111) para investigar o papel dessa anisotropia nas propriedades magnéticas do lme. Os substratos foram preparados quimicamente via uma solução de NH4F e caracterizados via microscopia de força atômica. Os lmes, depositados via desbaste iônico, foram caracterizados estruturalmente via difratometria de raio-x e microscopia de tunelamento. As propriedades magnéticas foram determinadas via magnetometria a efeito Kerr magnetoóptico, onde observou-se a presen ça de uma anisotropia uniaxial dominante. Um modelo fenomelógico de reversão da magnetização via rotação coerente foi aplicado para ajustar as curvas de histerese, e as constantes de anisotropia uniaxial para cada espessura foram determinadas.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagepor
dc.rightsOpen Access
dc.subjectPropriedades magnéticas
dc.subjectCobalto
dc.subjectSilício
dc.subjectFilmes finos
dc.subjectAnisotropia magnética
dc.subjectMicroscopia de força atômica
dc.subjectDifração de raios X
dc.subjectMicroscopia de tunelamento
dc.subjectEfeito kerr otico
dc.subjectMagnetização
dc.titleEstudo de propriedades magnéticas de filmes finos de cobalto sobre Si(111)
dc.typeDissertação


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