Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

dc.contributor	Susin, Altamiro Amadeu
dc.contributor	Reis, Ricardo Augusto da Luz
dc.contributor	Wagner, Tiaraju Vasconcellos
dc.creator	Orellana Hurtado, Carlos Jesus
dc.date	2007-06-06T17:21:00Z
dc.date	1986
dc.identifier	http://hdl.handle.net/10183/2245
dc.identifier	000316300
dc.description	O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.
dc.format	application/pdf
dc.language	por
dc.rights	Open Access
dc.subject	Microeletrônica
dc.subject	Testes : Circuitos integrados
dc.subject	Microscopio eletronico : Varredura
dc.subject	Depuração : Circuitos integrados
dc.title	Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
dc.type	Dissertação