dc.contributorMARIA TERESA SANZ PASCUAL
dc.creatorJUAN RAFAEL AYALA OLIVARES
dc.date2018-01-12
dc.date.accessioned2023-07-25T16:22:33Z
dc.date.available2023-07-25T16:22:33Z
dc.identifierhttp://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/881
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7806081
dc.descriptionEn esta tesis se propone una metodología para determinar los múltiples puntos de operación de un circuito, basada en el análisis con grafos de cactus y en análisis en DC. Los grafos de cactus permiten analizar la topología del circuito y determinar si existen estructuras de retroalimentación positiva, condición necesaria para que existan múltiples puntos de operación. Con el análisis en DC se obtiene la curva característica del circuito y es posible identificar los puntos de operación. Las operaciones que se realizan sobre los grafos de cactus pueden ser programadas para evaluar los circuitos rápidamente, incluso a pesar de que el número los resultados posibles crece excepcionalmente con el número de elementos en el circuito. Esta metodología se aplica en la tesis a un inversor Schmitt-Trigger y a referencias de bandgap de primer y segundo orden. En un inversor Schmitt-Trigger, diseñado en tecnología CMOS de 0.18µm, se encuentran dos estructuras de retroalimentación positiva. Para suprimir los múltiples puntos de operación, el circuito fue medicado añadiendo un par de transistores que inyectan o extraen corriente de los nodos que forman parte de las estructuras de retroalimentación positiva. Por otra parte, añadiendo circuitos de arranque es posible que el Schmitt-Trigger opere siempre en un determinado punto operación estable en el rango donde existen múltiples puntos. Los circuitos de arranque estudiados se clasifican en: Power-on-Reset, inyección/extracción constante de corriente, inyección/extracción de corriente controlada y circuitos de arranque dinámico, y se comparan en términos de tiempo de establecimiento y potencia consumida. Finalmente, se presenta el diseño de referencias de bandgap y su análisis con la metodología propuesta. En primer lugar, se muestra el análisis de dos referencias de primer orden, para determinar si existe más de un punto de operación como se menciona en la literatura. Después, con el fin de disminuir la variación del voltaje de referencia con respecto a la temperatura, se muestra el diseño de dos referencias de bandgap de segundo orden. La primera propuesta se basa en sumar un voltaje proporcional a la temperatura al cuadrado a la salida de una referencia de primer orden; este voltaje se genera a partir de elevar al cuadrado la corriente proporcional a la temperatura proveniente del núcleo de bandgap.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherInstituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
dc.relationcitation:Ayala-Olivares J.R.
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Múltiples puntos de operación/Multiple points of operation
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Grafo de cactus/Cactus graph
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Referencias de banbgap/References of banbgap
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/1
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/22
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2203
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/330703
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dc.titleMetodología para encontrar múltiples puntos de operación y diseño de referencias de bandgap
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/acceptedVersion
dc.audiencestudents
dc.audienceresearchers
dc.audiencegeneralPublic


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