| dc.contributor | JULIO CESAR RAMIREZ SAN JUAN | |
| dc.creator | RAFAEL PAEZ LOPEZ | |
| dc.date | 2012-08 | |
| dc.date.accessioned | 2023-07-25T16:22:15Z | |
| dc.date.available | 2023-07-25T16:22:15Z | |
| dc.identifier | http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/769 | |
| dc.identifier.uri | https://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7805986 | |
| dc.description | Here we present a method using a differential interference contrast microscope
(DIC, for its acronym in English) to acquire quantitative phase information. We
discuss the propagation of light through its components and what happens when
it goes through a specimen having phase gradients. Characterization is established
based on measurements using the phase shift interferometry to recover the
phase information of the test object.
We show an algorithm for integrating the phase gradients of the wave front
for each sample point of the scanned information. We discuss the principles of
operation of the DIC microscope, the measurement procedure and quantitative
interpretation of the results. | |
| dc.description | Aquí presentamos un método para utilizar un microscopio de interferencia
diferencial de contraste (DIC, por sus siglas en inglés) para adquirir información
cuantitativa de fase. Se discute la propagación de la luz a través de sus
componentes y lo que ocurre cuando se propaga a través de un espécimen
que presenta gradientes de fase. Se establece una caracterización basada en
mediciones empleando la interferometría de corrimiento de fase para adquirir
información de la fase del objeto bajo estudio.
También se presenta un algoritmo para integrar los gradientes de la fase del
frente de onda para cada punto de la muestra de la información digitalizada.
Se discute acerca de los principios del funcionamiento del microscopio DIC,
el procedimiento de medición y la interpretación cuantitativa de los resultados
obtenidos. | |
| dc.format | application/pdf | |
| dc.language | spa | |
| dc.publisher | Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica | |
| dc.relation | citation:Paez-Lopez R. | |
| dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
| dc.rights | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Microscopía/Microscopy | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Interferometría de cambio de fase/Phase shifting interferometry | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Medición de fase/Phase measurement | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Reconstrucción de la imagen/Image reconstruction | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/Microscopio/Microscope | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/1 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/22 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2209 | |
| dc.subject | info:eu-repo/classification/cti/2209 | |
| dc.title | Recuperación de fase mediante microscopía DIC | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/masterThesis | |
| dc.type | info:eu-repo/semantics/acceptedVersion | |
| dc.audience | students | |
| dc.audience | researchers | |
| dc.audience | generalPublic | |
