dc.contributorMARCELO DAVID ITURBE CASTILLO
dc.contributorERWIN JOSE ARMANDO MARTI PANAMEÑO
dc.creatorEDMUNDO REYNOSO LARA
dc.date2007-09
dc.date.accessioned2023-07-25T16:22:01Z
dc.date.available2023-07-25T16:22:01Z
dc.identifierhttp://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/647
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7805865
dc.descriptionThis thesis is based in the z-scan technique for the optics characterization of nonlinear materials. We work in this technique because it is very sensitive and easy to setup, besides that its analysis is not very complicated. With the z-scan technique we can obtain both the sign and the magnitude of the nonlinear refractive index; and according to the results of this thesis, we predict the type of nonlinearity that exhibit the sample. The text is divided into in four main parts: the development of a new model to describe the z-scan technique, its numeric simulation, the characterization of a sample through the z-scan technique and the reproduction of the experimental results with curves obtained through the model proposed in this thesis. The model uses the Gaussian beams propagation, ABCD law and consider to the sample like a thin lens besides far field approximation. We obtained experimental results of developed and bleached photographic film characterized by z-scan technique. It is very important to characterize this sample because its nonlinear behavior is obtained with low intensities of a He-Ne laser. The reproduction of the experimental results with theoretical curves of the proposed model was best, compared with results of others.
dc.descriptionEsta tesis se basa en la Técnica de Barrido Z (TBZ), para la caracterización óptica de materiales no lineales. La justificación de trabajar con esta técnica es debido a que es muy sensible y fácil de implementar, además de que la interpretación de los resultados, obtenidos a través de esta, no es muy complicado. Con la TBZ se puede obtener de manera inmediata el signo de la no linealidad y la magnitud de la misma; y de acuerdo a los resultados de esta tesis, inferir en el tipo de no linealidad que presenta la muestra. Este trabajo se clasifica en cuatro temas principales: el desarrollo de un nuevo modelo para describir la TBZ, la simulación numérica de este modelo, la caracterización de una muestra utilizando la TBZ y la reproducción de los resultados experimentales con curvas obtenidas a través d el modelo propuesto en esta tesis. El modelo utiliza la propagación de haces gaussianos, la ley ABCD y se basa en considerar a la muestra como una lente, además de las aproximaciones de detección en eje y a campo lejano. Se caracterizó con la TBZ una película fotográfica, revelada y blanqueada, depositada en un sustrato de vidrio. La importancia de caracterizar esta muestra es porque presenta un comportamiento no lineal a intensidades relativamente bajas y que pueden lograrse con un láser de He- Ne. La reproducción de los resultados experimentales con curvas teóricas del modelo propuesto fue la mejor que se logró comparado con la de otras propuestas.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherInstituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
dc.relationcitation:Reynoso-Lara E
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Óptica no lineal/Nonlinear optics
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Autofocalización/Self-focusing
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Kerr efecto electro-óptico/Kerr electro-optical effect
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/1
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/22
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2209
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/220913
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/220913
dc.titleTécnica de barrido en Z para la caracterización óptica no lineal de materiales
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesis
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/acceptedVersion
dc.audiencestudents
dc.audienceresearchers
dc.audiencegeneralPublic


Este ítem pertenece a la siguiente institución