dc.contributorREYDEZEL TORRES TORRES
dc.contributorMONICO LINARES ARANDA
dc.creatorDIEGO MAURICIO CORTES HERNANDEZ
dc.date2013-06
dc.date.accessioned2023-07-25T16:21:12Z
dc.date.available2023-07-25T16:21:12Z
dc.identifierhttp://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/257
dc.identifier.urihttps://repositorioslatinoamericanos.uchile.cl/handle/2250/7805477
dc.descriptionEn este trabajo se analizó la dependencia de la geometría y la frecuencia sobre las propiedades eléctricas de interconexiones multinivel. En el estudio, fue analizada la influencia del espesor del dieléctrico y el ancho de la tira conductora sobre el cambio en la impedancia característica y la constante de propagación, esta última analizada a partir de las regiones de operación de Johnson. Para entender la dependencia de los efectos de distribución de corriente con la frecuencia y la geometría en interconexiones, se realizó un análisis exhaustivo de la resistencia en serie (R) y la inductancia (L) en interconexiones. Este análisis permitió identificar los rangos de frecuencia en los que R y L presentan curvas de tendencia diferentes debido a las variaciones en la distribución del flujo de corriente. Además, se explica la discrepancia de las curvas experimentales con el modelo de la raíz cuadrada de frecuencia a partir del efecto de proximidad y el efecto piel. Las mediciones obtenidas hasta los 40 GHz de las estructuras muestran que los modelos incluyendo términos proporcionales a la raíz cuadrada de la frecuencia son validos.
dc.formatapplication/pdf
dc.languagespa
dc.publisherInstituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
dc.relationcitation:Cortes-Hernandez D.M.
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rightshttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Corriente eléctrica/Electric Current
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Medición de frecuencia/Frequency measurement
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/Efectos de alta frecuencia/High-frequency effects
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/1
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/22
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2203
dc.subjectinfo:eu-repo/classification/cti/2203
dc.titleCaracterización de parámetros eléctricos dependientes de frecuencia en interconexiones de circuitos integrados
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/acceptedVersion
dc.audiencestudents
dc.audienceresearchers
dc.audiencegeneralPublic


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